產品中心
Product Center
熱門搜索：
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測試儀
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測試系統(tǒng)
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號示波器
SDS1122E+鼎陽SDS1122E+數(shù)字示波器
UT89X/UT89XD優(yōu)利德UT89X/D系列專業(yè)NCV數(shù)字式萬用表
ME-2SYQ-2型淬火介質冷卻特性測試儀
UTG932/UTG962優(yōu)利德UTG932/UTG962函數(shù)任意波形發(fā)生器
E8900A德力 5G NR 信號分析儀
UT890C/D/C+/D+優(yōu)利德UT890C/D/C+/D+數(shù)字萬用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數(shù)字示波器
UTP1306S優(yōu)利德UTP1306S系列直流穩(wěn)壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規(guī)測試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優(yōu)利德UTD7072BG/UTD7102BG數(shù)字存儲示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護開關測試儀
product
產品分類
致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀 筆記本/手持式系統(tǒng)的LCD耐久性 : 模擬一個產品的面板元件非常態(tài)的受力 按鍵的壽命測試 : 模擬在產品的生命周期內按鍵的耐久度 機構密合度 : 模擬產品結構上的耐久度 產品緩沖 : 模擬重復摩擦塑膠材質或觸控式面板
更新時間：2024-11-30
產品型號：POGO BT 4000
瀏覽量：1582
Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀 針對筆記型電腦的轉軸測試 待測物數(shù)量可架設10組Hinge 可擴充同時測試15組Hinge
更新時間：2024-11-30產品型號：Multi-Hinge Tester瀏覽量：1622
致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀 高效能，全自動的扭轉開合測試機 高速、準確及適用性能符合許多測試規(guī)范 主要為筆記型電腦及其他使用時會承受重復性扭轉的產品 模仿操作者每日正常使用產品時影響的機械結構動作
更新時間：2024-11-29產品型號：HiByM 2001 Hinge瀏覽量：1393
致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀 符合所有現(xiàn)行的tco低頻磁場輻射測試標準（MFM 2000） 可載入icniRP、en 50366、iec 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由icniRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400 Khz）（MFM 3000） 全自動權范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF）（MFM 2000）頻帶I（5Hz~2 kHz）：10
更新時間：2024-11-29產品型號：MFM 3000瀏覽量：1436
致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀 符合所有現(xiàn)行的TCO低頻磁場輻射測試標準（MFM2000） 可載入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等規(guī)范（選購），并適用于其他由ICNIRP衍生的低頻磁場輻射測試規(guī)范（5Hz~400kHz） （MFM 3000） 全自動權范圍測量，并可同時量測雙頻帶（VLF/ELF） （MFM2000） 頻帶I（5Hz~2kHz）:10n
更新時間：2024-11-29產品型號：MFM 2000瀏覽量：1768
當前位置：
